Observação e caracterização de não-estruturas por microscopia de força atômica

• Processo: 98/14769-2
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Programa Equipamentos Multiusuários
• Data de Início da vigência: 01 de agosto de 1999
• Data de Término da vigência: 30 de setembro de 2001
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física
• Pesquisador responsável: Omar Teschke
• Beneficiário: Omar Teschke
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Microscopia Microscopia de força atômica Filmes finos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Dupla Camada | Filmes Finos | Intercalacao | Microscopia De Forca Atomica | Scaling
• Página web do EMU: Página do Equipamento Multiusuário não informada
• Tipo de equipamento: Tipo de Equipamento Multiusuário não informado
• Fabricante: Fabricante não informado
• Modelo: Modelo não informado

Resumo

Observação e caracterização de não-estruturas por microscopia de força atômica. (AU)

Publicações científicas

(11)

(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)

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