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Simple analytical model to study the ztc bias point in finfets

Processo: 07/00436-2
Modalidade de apoio:Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
Data de Início da vigência: 06 de maio de 2007
Data de Término da vigência: 11 de maio de 2007
Área do conhecimento:Engenharias - Engenharia Elétrica - Circuitos Elétricos, Magnéticos e Eletrônicos
Pesquisador responsável:Marcello Bellodi
Beneficiário:Marcello Bellodi
Instituição Sede: Centro Universitário FEI (UNIFEI). Campus de São Bernardo do Campo. São Bernardo do Campo , SP, Brasil
Assunto(s):Microeletrônica  Modelagem  Técnicas de caracterização elétrica   Tecnologia SOI 
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Caracterizacao Eletrica | Modelagem | Novos Dispositivos | Simulacao De Dispositivos | Soi Mosfet | Tecnologia Soi | Microeletrônica
Matéria(s) publicada(s) na Agência FAPESP sobre o auxílio:
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