18th International Microscopy Conference

• Processo: 14/12336-6
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
• Data de Início da vigência: 07 de setembro de 2014
• Data de Término da vigência: 17 de setembro de 2014
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Metalurgia Física
• Pesquisador responsável: Juno Gallego
• Beneficiário: Juno Gallego
• Instituição Sede: Faculdade de Engenharia (FEIS). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Ilha Solteira. Ilha Solteira , SP, Brasil
• Assunto(s): Difração de elétrons Caracterização microestrutural Microscopia eletrônica de transmissão
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Análise de Lâminas Finas | Difração de Elétrons | Microscopia eletrônica de transmissão | Nucleação de Ferrita Acicular em Solda | Revestimento Amorfo em Aço Inoxidável Duplex | Caracterização microestrutural