| Processo: | 18/18236-4 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Doutorado Direto |
| Data de Início da vigência: | 01 de janeiro de 2019 |
| Data de Término da vigência: | 30 de junho de 2023 |
| Área de conhecimento: | Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos |
| Pesquisador responsável: | Miguel Ángel Ramírez Gil |
| Beneficiário: | Henrique Piccoli Moreno |
| Instituição Sede: | Faculdade de Engenharia (FEG). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Guaratinguetá. Guaratinguetá , SP, Brasil |
| Vinculado ao auxílio: | 13/07296-2 - CDMF - Centro de Desenvolvimento de Materiais Funcionais, AP.CEPID |
| Assunto(s): | Materiais cerâmicos Sinterização Pulverização catódica |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Ccto | electric field-assisted flash sintering | RF-sputtering | Cerâmicos |
Resumo Cerâmicas à base de CaCu3Ti4O12 (CCTO) têm recebido grande atenção devido às propriedades multifuncionais e sua potencial aplicação em lasers, LEDs, FED's, fotocatálise, supercapacitores, varistores, sensores de gás, memórias resistivas, etc. O objetivo deste projeto é estudar o efeito da adição de X% de W6+ sendo X= 0,0; 0,25; 0,50; 0,75 e 1,00, nas propriedades multifuncionais de cerâmicas de CCTO na forma de pós e bulks preparados por reação em estado sólido e filmes nanoestruturados densos e porosos fabricados por RF-sputtering. Os pós serão caracterizados em relação a suas propriedades (micro)estruturais e ópticas. Para tanto, será analisada sua estrutura a longo, médio e curto alcance usando as técnicas de Difratometria de Raios X (DRX), XANES/EXAFS, resposta fotoluminescente (PL), Raman e ultravioleta visível (UV-vis). Nas cerâmicas de CCTO com adição de W6+ na forma de bulks, será realizado um estudo comparativo da sinterização em forno convencional e por electric field-assisted flash sintering, e sua influência na (micro)estrutura e propriedades dielétrica e não ôhmica. As cerâmicas na forma de bulks serão caracterizadas com o auxílio da técnica de refinamento Rietveld para determinação das fases presentes e sua estrutura cristalina, acompanhado de FEG/MEV e TEM/HRTEM. Espectroscopia de Impedância (EI) a diferentes temperaturas, medidas corrente-tensão (I-V), microscopia de força atômica (AFM) e microscopia de força eletrostática (EFM) serão usadas para entender os mecanismos de formação de barreiras ativas nos contornos de grão associadas as propriedades dielétricas e varistoras. Filmes nanoestruturados densos e porosos serão depositados sobre substratos apropriados pela técnica de RF-sputtering. Os filmes nanoestruturados serão caracterizados usando técnicas como DRX com ângulo rasante, FEG/MEV e XPS. Nos filmes densos serão estudadas a resposta dielétrica e varistora e nos filmes porosos a resposta sensora ao gás CO. Não existe na literatura, um estudo integrado sobre as propriedades multifuncionais do CCTO na forma de pó, bulk e filmes, sendo esta proposta de pesquisa inovadora do ponto de vista científico e tecnológico. (AU) | |
| Matéria(s) publicada(s) na Agência FAPESP sobre a bolsa: | |
| Mais itensMenos itens | |
| TITULO | |
| Matéria(s) publicada(s) em Outras Mídias ( ): | |
| Mais itensMenos itens | |
| VEICULO: TITULO (DATA) | |
| VEICULO: TITULO (DATA) | |