Estudo de formação de solução sólida em ZrO2+Y2O3

• Processo: 01/08388-0
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de setembro de 2001
• Data de Término da vigência: 31 de maio de 2002
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Reginaldo Muccillo
• Beneficiário: Fabiana Henriques Salles Ribeiro
• Instituição Sede: Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN). Secretaria de Desenvolvimento Econômico (São Paulo - Estado). São Paulo , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 99/10798-0 - Estudo de fenômenos intergranulares em óxidos cerâmicos, AP.TEM
• Assunto(s): Eletrólitos poliméricos Zircônia Óxido de ítrio Pós cerâmicos Espectroscopia de impedância Difração por raios X
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Eletrolitos Solidos Ceramicos | Espectroscopia De Impedancia | Oxido De Zirconio

Resumo

Amostras cerâmicas policristalinas de ZrO2 + Y2O3 serão preparadas para o estudo da formação de solução sólida, por meio das técnicas de difração de raios X e espectroscopia de impedância. O principal objetivo é mapear a solubilidade de óxido de ítrio em óxido de zircônio, por meio da análise da transformação de fase monoclínica - cúbica por difração de raios X e o aumento na condutividade intragranular por meio de espectroscopia de impedância. A transformação de fases é conseqüência da estabilização da zircônia pela formação de solução sólida e o aumento na condutividade intergranular é decorrência do aumento na concentração de vacâncias de oxigênio por meio da compensação de cargas pela introdução de íons ítrio (Y1-3) na posição dos íons zircônio (Zr+4). Os pós cerâmicos serão caracterizados por meio de espalhamento laser para a determinação de distribuição de tamanho de partículas. Após compactação e tratamentos térmicos a várias temperaturas na faixa 1000°C a 1500°C (por diferentes tempos), os compactos serão analisados por difração de raios X e espectroscopia de impedância. Análises complementares de microscopia eletrônica de varredura poderão ser feitas para a determinação de tamanho médio de grão. (AU)