Análise estrutural de materiais por difração de raios X

• Processo: 99/04019-9
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de agosto de 1999
• Data de Término da vigência: 31 de dezembro de 1999
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Yvonne Primerano Mascarenhas
• Beneficiário: Ciro Otavio de Lacerda Badaro
• Instituição Sede: Instituto de Física de São Carlos (IFSC). Universidade de São Paulo (USP). São Carlos , SP, Brasil
• Assunto(s): Materiais ferroelétricos Estrutura cristalina Análise estrutural Difração por raios X Método de Rietveld
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Difracao De Raios X | Estrutura Cristalina | Materiais Ferroeletricos | Metodo De Rietveld

Resumo

O projeto visa introduzir o aluno aos conceitos básicos de cristalografia com ênfase em difração de raios X por amostras policristalinas. O aluno deverá inicialmente analisar todos os fatores que afetam o perfil de difração por amostras policristalinas, tanto devido à natureza física e química da amostra como aqueles devidos às características do instrumento de medida. Participará do refinamento de estrutura usando o método de Rietveld aplicado a amostras de materiais cerâmicos ferroelétricos. (AU)