Caracterização de multicamadas TiNxOy/TiO2 crescidas por deposição química de organometálicos em fase vapor a baixa pressão (LP-MOCVD)

• Processo: 00/12365-3
• Modalidade de apoio: Bolsas no Exterior - Pesquisa
• Data de Início da vigência: 15 de janeiro de 2001
• Data de Término da vigência: 14 de fevereiro de 2001
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Lisandro Pavie Cardoso
• Beneficiário: Lisandro Pavie Cardoso
• Pesquisador Anfitrião: Marco Antonio Sacilotti
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Instituição Anfitriã: Université de Bourgogne, França
• Assunto(s): Difração por raios X Radiação síncrotron Semicondutores Intercâmbio de pesquisadores Colaboração científica
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Difracao De Raios X | Materiais Semicondutores | Multicamadas | Radiacao Sincrotron

Resumo

São objetivos deste projeto uma nova colaboração científica com o Prof. Sacilotti, da Universidade de Bourgogne, Dijon, França em sistemas TiNO/TiO2, cujas amostras são crescidas por LP-MOCVD, e que apresentam possibilidade de controle de gap em um material de alta dureza, com diversas aplicações práticas incluindo o revestimento de ferramentas mecânicas e proteção de janelas ópticas. Serão realizadas análises por difração de raios-X, incluindo a difração múltipla de raios-X(DMRX), tema de colaboração anterior produtiva com o Prof. Sacilotti. Também visa o projeto, permitir a minha participação no projeto do Dr. Sérgio Morelhão, IF, USP, para análise de materiais com a DMRX, na estação ID19 do Laboratório Síncrotron Europeu (ESRF), Grenoble, França. (AU)