Estudo de interfaces e distribuicao de dopante em mano-estruturas semicondutoras pela analise quantitativa de imagens de microscopia eletronica de resolucao atomica.

Resumo

O projeto de doutorado proposto nesta solicitação visa desenvolver metodologias baseadas em imagens de microscopia eletrônica de transmissão para caracterização detalhada e quantitativa de superfícies e interfaces de nanosistemas. Serão utilizados métodos avançados de microscopia eletrônica de transmissão, visando à combinação de informações estruturais (imagens de resolução atômica), e dados espectroscópicos (espectroscopia de raios-X e de elétrons) adquiridos com alta resolução espacial (nanomêtrica a atômica). Esperamos poder assim contribuir a construção da microscopia eletrônica quantitativa onde as imagens deixam de ser analisadas qualitativamente (por comparação e analise visual), para passar a ser interpretadas numericamente e quantitativamente. Estes métodos são essenciais para responder novas perguntas geradas por sistemas nanoestruturados, como a distribuição espacial de dopantes e impurezas e como ela influencia as propriedades físicas e químicas; dentre os objetos que serão estudados estão poços quânticos, nanofios semicondutores, nanopartículas, etc. (AU)