| Processo: | 14/01045-0 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Exterior - Pesquisa |
| Data de Início da vigência: | 01 de agosto de 2014 |
| Data de Término da vigência: | 31 de julho de 2015 |
| Área de conhecimento: | Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada |
| Pesquisador responsável: | Daniel Mario Ugarte |
| Beneficiário: | Daniel Mario Ugarte |
| Pesquisador Anfitrião: | Caterina Ducati |
| Instituição Sede: | Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil |
| Instituição Anfitriã: | University of Cambridge, Inglaterra |
| Assunto(s): | Estrutura atômica (física moderna) Microscopia eletrônica Materiais nanoestruturados |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | aberration corrected TEM | Estrutura atômica | Microscopia Eletrônica | Nanocompóistos híbridos | Nanomateriais | Tomografia Eletrônica | Nanossistemas |
Resumo A completa caracterização de sistemas nanométricos requer conhecimento detalhado do arranjo atômico. A microscopia eletrônica de transmissão (TEM) recebeu melhoras surpreendentes de seu sistema ótico nos últimos 5 anos com a otimização e comercialização de óticas eletrônica com corretores de aberração esférica ou cromática e monocromadores da energia dos elétrons. Lamentavelmente, o Brasil não possui instrumentos no estado da arte, nem grupos consolidados com experiência nesta área. Um estágio de 12 meses num laboratório de referência a nível mundial como o Laboratório de Microscopia Eletrônica da Universidade de Cambridge permitirá uma eficiente atualização, numa instituição que possui todos os recursos materiais e humanos na fronteira do conhecimento. O pesquisador será acolhido por dois especialistas reconhecidos mundialmente, como o Prof. Paul Midgley, pioneiro na implementação da tomografia eletrônica (ET) e, C. Ducati especialista na aplicação de TEM, STEM (Scanning TEM) e FIB a nanocaracterização de materiais. Visamos aplicar metodologias modernas e recentes baseadas em TEM com óptica corregida (Aberration Corrected TEM, ACTEM) para caracterização detalhada e quantitativa da estrutura e superfícies e interfaces de nanossistemas utilizando o arsenal de técnicas analíticas disponíveis num TEM/STEM (imagens, tomografia, espectroscopia de R-x e de elétrons, difração, etc.). Entre os objetos que serão estudados estão catalizadores heterogêneos, nanopartículas metálicas e células fotovoltaicas híbridas. Pretendemos explorar a tomografia eletrônica para o estudo de amostras muito sensíveis a radiação como catalisadores heterogêneos, incluindo nanopartículas metálicas muito pequenas (~nm). Também, estudaremos aplicação de tomografia a nanoestruturas híbridas (células solares) contendo materiais orgânicos e inorgânicos para caracterizar as interfaces de forma quantitativa e estatística. (AU) | |
| Matéria(s) publicada(s) na Agência FAPESP sobre a bolsa: | |
| Mais itensMenos itens | |
| TITULO | |
| Matéria(s) publicada(s) em Outras Mídias ( ): | |
| Mais itensMenos itens | |
| VEICULO: TITULO (DATA) | |
| VEICULO: TITULO (DATA) | |