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Caracterização elétrica e modelagem de dispositivos eletrônicos avançados

Processo: 14/18041-8
Modalidade de apoio:Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
Data de Início da vigência: 01 de novembro de 2014
Data de Término da vigência: 31 de outubro de 2017
Área de conhecimento:Engenharias - Engenharia Elétrica - Medidas Elétricas, Magnéticas e Eletrônicas, Instrumentação
Acordo de Cooperação: Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)
Pesquisador responsável:Marcelo Antonio Pavanello
Beneficiário:Renan Trevisoli Doria
Instituição Sede: Centro Universitário FEI (UNIFEI). Campus de São Bernardo do Campo. São Bernardo do Campo , SP, Brasil
Assunto(s):Transistores
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Caracterização Elétrica | Modelagem Analítica | Transistores MOS | Dispositivos Semicondutores

Resumo

Dispositivos eletrônicos avançados tais como o transistor MOS sem junções (JNTs) foram desenvolvidos a fim de se permitir um maior escalamento das dimensões dos dispositivos em relação aos dispositivos MOS convencionais, devido ao melhor controle eletrostático das cargas no canal, minimizando a ocorrência dos efeitos de canal curto. Dessa forma, esses transistores permitem uma maior miniaturização dos dispositivos eletrônicos.A fim de se analisar a operação de um dispositivo em circuitos elétricos, modelos analíticos são necessários. Esses modelos devem ser funcionais para dispositivos de diferentes características como concentração de dopantes e dimensões físicas, operando em diferentes polarizações e temperaturas. Os modelos também devem compreender tanto o funcionamento estático dos dispositivos como o dinâmico, sendo que este segundo está relacionado às capacitâncias. No caso dos MOS sem junções, diversos modelos tem sido desenvolvido visando o comportamento estático. Entretanto, o comportamento dinâmico de transistores sem junções foi pouco explorado na literatura, especialmente a modelagem de dispositivos porta tripla, que são mais interessantes do ponto de vista da aplicação prática.Assim, este projeto tem como objetivo principal a modelagem do comportamento dinâmico dos dispositivos eletrônicos, focando nos JNTs porta tripla. Para tal, é necessário realizar simulações numéricas e medidas elétricas. O comportamento estático também deve ser analisado cuidadosamente, uma vez que o mesmo interfere na distribuição de cargas e, portanto, nas capacitâncias. Outros dispositivos como os FinFETs e nanofios não dopados também podem ser analisados a fim de comparação. (AU)

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Publicações científicas (28)
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
DORIA, RODRIGO TREVISOLI; TREVISOLI, RENAN; DE SOUZA, MICHELLY; BARRAUD, SYLVAIN; VINET, MAUD; FAYNOT, OLIVIER; PAVANELLO, MARCELO ANTONIO. Analysis of the substrate bias effect on the interface trapped charges in junctionless nanowire transistors through low-frequency noise characterization. MICROELECTRONIC ENGINEERING, v. 178, n. SI, p. 17-20, . (14/18041-8)
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