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Sistema ótico de alto desempenho para um microscópio de varredura de tunelamento

Processo: 17/00259-5
Modalidade de apoio:Bolsas no Brasil - Mestrado
Data de Início da vigência: 01 de março de 2017
Data de Término da vigência: 31 de agosto de 2019
Área de conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Luiz Fernando Zagonel
Beneficiário:Yves Maia Auad
Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
Vinculado ao auxílio:14/23399-9 - Heteroestruturas em nanofios semicondutores: emissores de luz nanométricos estudados por microscopia de varredura de tunelamento, AP.JP
Bolsa(s) vinculada(s):18/06166-1 - Espectroscopia de emissão e absorção de defeitos pontuais em escalas nanométricas e sub-nanométricas, BE.EP.MS
Assunto(s):Óptica   Nanotecnologia   Instrumentação   Microscópio óptico   Microscopia de tunelamento   Microscopia eletrônica de varredura
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:nanotechnology | Optics | Stm | Instrumentação

Resumo

Esse projeto visa desenvolver e instalar um sistema ótico de alto desempenho para coleção de luz dentro de um microscópio de varredura de tunelamento (STM). O sistema ótico será caracterizado pelo grande ângulo sólido de coleção e pelo sistema de transmissão de luz que minimiza as perdas até o espectrômetro. Será realizados testes de desempenho e comissionamento do dispositivo no STM. Será desenvolvido um software para aquisição de dados automaticamente. O sistema será finalmente aplicado ao estudo de semicondutores para demonstrar as capacidades instaladas. (AU)

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Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
DAS, P.; BLAZIT, J. D.; TENCE, M.; ZAGONEL, L. F.; AUAD, Y.; LEE, Y. H.; LING, X. Y.; LOSQUIN, A.; COLLIEX, C.; STEPHAN, O.; et al. Stimulated electron energy loss and gain in an electron microscope without a pulsed electron gun. ULTRAMICROSCOPY, v. 203, n. SI, p. 44-51, . (17/00259-5, 14/23399-9)
DAS, P.; BLAZIT, J. D.; TENCE, M.; ZAGONEL, L. F.; AUAD, Y.; LEE, Y. H.; LING, X. Y.; LOSQUIN, A.; COLLIEX, C.; STEPHAN, O.; et al. Stimulated electron energy loss and gain in an electron microscope without a pulsed electron gun. ULTRAMICROSCOPY, v. 203, p. 8-pg., . (17/00259-5, 14/23399-9)
Publicações acadêmicas
(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)
AUAD, Yves Maia. A study of electronic and optical spectroscopies in a scanning tunneling microscope and in a scanning transmission electron microscope. 2019. Dissertação de Mestrado - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Física Gleb Wataghin Campinas, SP.