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Caracterização microestrutural de filmes finos ferroelétricos de BBT (BaBi2Ta2O9)

Processo: 98/13678-3
Modalidade de apoio:Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
Data de Início da vigência: 01 de fevereiro de 1999
Data de Término da vigência: 31 de maio de 2001
Área de conhecimento:Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
Pesquisador responsável:Cesar Renato Foschini
Beneficiário:Cesar Renato Foschini
Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil
Vinculado ao auxílio:00/01991-0 - Síntese e caracterização de filmes finos e cerâmicas ferroelétricos, AP.TEM
Assunto(s):Filmes finos   Microscopia eletrônica
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Babita209 | Bismuth Layer Compounds | Dram | Filmes Finos | Materiais Dieletricos | Microscopia Eletronica

Resumo

Este projeto tem como tema a caracterização micro-estrutural de filmes finos de BBT (BaBi2Ta2O9) que exibem propriedades elétricas para aplicações como dielétricos em memórias, bem como as prováveis interações desta fase com os materiais do substrato/eletrodo. Para isto serão preparados filmes finos de BBT, pela técnica de MOD, sobre substratos de Si recobertos com Pt, livres de trinca e com boas características elétricas e caracterizados com relação à morfologia, microestrutura e propriedades dielétricas. (AU)

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Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
MASTELARO‚ V.R.; FOSCHINI‚ C.R.; VARELA‚ J.A.. Grazing incidence X-ray diffraction and atomic force microscopy analysis of BaBi2 Ta2 O9 thin films. Thin Solid Films, v. 415, n. 1, p. 57-63, . (00/01991-0, 98/13678-3)
STOJANOVIC‚ BD; ZAGHETE‚ MA; FOSCHINI‚ CR; VIEIRA‚ FOS; VARELA‚ JA. Structure and properties of donor doped barium titanate prepared by citrate process. Ferroelectrics, v. 270, n. 1, p. 15-20, . (98/13678-3)