Busca avançada
Ano de início
Entree
(Referência obtida automaticamente do Web of Science, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores.)

Interval Simulated Annealing applied to Electrical Impedance Tomography image reconstruction with fast objective function evaluation

Texto completo
Autor(es):
Martins, Thiago de Castro ; Guerra Tsuzuki, Marcos de Sales ; Bueno de Camargo, Erick Dario Leon ; Lima, Raul Gonzalez ; de Moura, Fernando Silva ; Passos Amato, Marcelo Brito
Número total de Autores: 6
Tipo de documento: Artigo Científico
Fonte: COMPUTERS & MATHEMATICS WITH APPLICATIONS; v. 72, n. 5, p. 1230-1243, SEP 2016.
Citações Web of Science: 3
Resumo

The Electrical Impedance Tomography (EIT) reconstruction problem can be solved as an optimization problem in which the discrepancy between a simulated impedance domain and the observed one is minimized. This optimization problem can be solved by a combination of Simulated Annealing (SA) for optimization and the Finite Element Method (FEM) for simulating the impedance domain. A new objective function based on the total least squares error minimization is proposed. This objective function is ill-conditioned with dense meshes. Two possibilities to overcome ill-conditioning are considered: combination with another objective function (Euclidean distance) and inclusion of a regularization term. To speed up the algorithm, results from previous iterations are used to improve the present iteration convergence, and a preconditioner is proposed. This new reconstruction approach is evaluated with experimental data and compared with previous approaches. (C) 2016 Elsevier Ltd. All rights reserved. (AU)

Processo FAPESP: 08/07150-0 - Estimação não linear de estado através do unscented Kalman filter na tomografia por impedância elétrica
Beneficiário:Fernando Silva de Moura
Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Doutorado Direto
Processo FAPESP: 10/19380-0 - Recozimento simulado com avaliação incompleta da função objetivo aplicado à tomografia por impedância elétrica
Beneficiário:Thiago de Castro Martins
Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular
Processo FAPESP: 09/07173-2 - Aplicação do recozimento simulado à tomografia por impedância elétrica para a obtenção de imagens absolutas
Beneficiário:Marcos de Sales Guerra Tsuzuki
Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular