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(Referência obtida automaticamente do Web of Science, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores.)

Back-to-back Schottky diodes: the generalization of the diode theory in analysis and extraction of electrical parameters of nanodevices

Texto completo
Autor(es):
Chiquito, Adenilson J. [1] ; Amorim, Cleber A. [1] ; Berengue, Olivia M. [1] ; Araujo, Luana S. [1] ; Bernardo, Eric P. [1] ; Leite, Edson R. [2]
Número total de Autores: 6
Afiliação do(s) autor(es):
[1] Univ Fed Sao Carlos, Dept Fis, NanO LaB, BR-13565905 Sao Carlos, SP - Brazil
[2] Univ Fed Sao Carlos, Dept Quim, Lab Interdisciplinar Eletroquim & Ceram, BR-13565905 Sao Carlos, SP - Brazil
Número total de Afiliações: 2
Tipo de documento: Artigo Científico
Fonte: JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER; v. 24, n. 22 JUN 6 2012.
Citações Web of Science: 54
Resumo

We report on the analysis of nonlinear current-voltage characteristics exhibited by a set of blocking metal/SnO2/metal. Schottky barrier heights in both interfaces were independently extracted and their dependence on the metal work function was analyzed. The disorder-induced interface states effectively pinned the Fermi level at the SnO2 surface, leading to the observed Schottky barriers. The model is useful for any two-terminal device which cannot be described by a conventional diode configuration. (AU)

Processo FAPESP: 09/51740-9 - Propriedades eletrônicas em nanoestruturas: nanofios de óxidos metálicos
Beneficiário:Adenilson José Chiquito
Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular