EMU científico: aquisição de conjunto de microscópio dual beam para preparação de amostras in-situ e microscópio eletrônico de transmissão com configuração e hardware de última geração e detector quádruplo de EDS

• Processo: 22/11290-9
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Programa Infraestrutura - Científico
• Data de Início da vigência: 01 de agosto de 2023
• Data de Término da vigência: 31 de julho de 2030
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Metalurgia Física
• Pesquisador responsável: Piter Gargarella
• Beneficiário: Piter Gargarella
• Instituição Sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
• Município da Instituição Sede: São Carlos
• Pesquisadores associados: Claudemiro Bolfarini ; Claudio Shyinti Kiminami ; Conrado Ramos Moreira Afonso ; Edgar Dutra Zanotto ; Francisco Gil Coury ; Guilherme Zepon ; Marisa Narciso Fernandes ; Reginaldo Teixeira Coelho ; Walter José Botta Filho
• Assunto(s): Caracterização estrutural Caracterização microestrutural Microscopia eletrônica de transmissão Métodos analíticos de preparação de amostras Feixes de íons radioativos Aquisição de equipamentos Equipamentos multiusuários Infraestrutura de pesquisa
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Caracterização microestrutural | Microscopia eletrônica de transmissão | microscópio dual beam | preparação de amostras | Caracterização de materiais

Resumo

O presente projeto prevê a aquisição de microscópio Dual Beam e Microscópio Eletrônico de Transmissão (MET) a serem incorporados à infraestrutura do Laboratório de Caracterização Estrutural, LCE, do Departamento de Engenharia de Materiais da UFSCar, complementando e modernizando sua capacitação para análise estrutural micro, nano e sub-nano de todos os tipos de materiais. O LCE é um laboratório multidisciplinar e multiusuário, aberto a usuários de empresas e instituições de pesquisa de todo o país. Ele foi criado em 1976 e tem atualmente mais de 750 usuários treinados a operarem os equipamentos disponíveis para mais de 4000 usuários cadastrados. O MET que está sendo solicitado possui configuração e hardware de última geração, e permite a aquisição de imagens com melhor resolução e qualidade superior aos outros MET disponíveis no LCE (que estão com quase 15 anos de uso). Ele também terá o diferencial de possuir detector quádruplo de EDS SDD (Silicon Drift Detector), que permite mapeamentos de composição química de forma rápida (minutos). Está sendo solicitado em conjunto um microscópio Dual Beam para preparação de amostras in-situ para MET pela técnica de FIB (Focused Ion Beam). Embora esses dois equipamentos possam funcionar de forma independente, para obtenção de imagens sub-nanométricas de alta qualidade e mapeamento composicional de alta resolução no novo MET, é fundamental o uso do microscópio Dual Beam para preparação de amostras. Além disso, diversos materiais que são frequentemente analisados por MET somente podem ser preparados de forma efetiva utilizando a técnica do Dual Beam, desta forma consideramos que em termos práticos, sem esse equipamento, a capacidade de atendimento do laboratório ficará limitada, não estando apto a atingir uma qualidade ótima de preparação de amostras para conseguir o máximo de resolução no novo microscópio. A incorporação desses dois modernos equipamentos multiusuários ao LCE acrescentará mais uma etapa importante na história desde Laboratório Multiusuário Centralizado, que é único no Brasil em diversos aspectos relacionados à agilidade, flexibilidade e qualidade dos serviços de microscopia eletrônica e de varredura de sondas, e microanálise, disponibilizados para pesquisadores e estudantes de graduação e pós-graduação que necessitem de caracterização micro-, nano- e sub-nano-estrutural dos diferentes tipos de materiais. (AU)