Recozimento simulado com avaliação incompleta da função objetivo aplicado à tomografia por impedância elétrica

• Processo: 10/19380-0
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular
• Data de Início da vigência: 01 de abril de 2011
• Data de Término da vigência: 30 de junho de 2013
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia Biomédica - Bioengenharia
• Pesquisador responsável: Thiago de Castro Martins
• Beneficiário: Thiago de Castro Martins
• Instituição Sede: Escola Politécnica (EP). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Pesquisadores associados: Marcos de Sales Guerra Tsuzuki ; Raul Gonzalez Lima
• Auxílio(s) vinculado(s): 12/51219-0 - Minimum deviation zone of parametric sculpture surfaces in automotive body manufacturing, AP.R
• Assunto(s): Tomografia Impedância elétrica Algoritmos Método dos elementos finitos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Elementos Finitos | otimização | Problemas Inversos | recozimento simulado | tomografia por impedância elétrica | Tomografia de Impedância Elétrica

Resumo

No projeto de pesquisa FAPESP 2009/07173-2 foi iniciado o desenvolvimento deum algoritmo de reconstrução de imagem de Tomografia por Impedância Elétrica (TIA) baseadono Recozimento Simulado. Como forma de reduzir o custo computacional do processode reconstrução, foi criado um processo de avaliação \emph{parcial} da função objetivo quegarante limites superiores para a probabilidade de desvio do algoritmo (quando comparadoao processo com avaliação completa). Os resultados iniciais do projeto, mostraram que a avaliação parcial da função objetivo tem um grande impacto no custo computacional do processo,sem prejudicar a eficácia do mesmo em reconstruir imagens de TIA. Neste projeto, um aprimoramentodeste processo será apresentado, baseado na formulação de uma nova função objetivo para o Recozimento Simulado. Esta nova função, baseada no erro quadrático total de um sistema super-determinado, aprimora as garantias de convergência da função original e mitiga potenciais problema de escalabilidade. (AU)

Publicações científicas

(5)

(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)

MARTINS, THIAGO DE CASTRO; LEON BUENO DE CAMARGO, ERICK DARIO; LIMA, RAUL GONZALEZ; PASSOS AMATO, MARCELO BRITTO; GUERRA TSUZUKI, MARCOS DE SALES. Image Reconstruction Using Interval Simulated Annealing in Electrical Impedance Tomography. IEEE Transactions on Biomedical Engineering, v. 59, n. 7, p. 1861-1870, JUL 2012. (09/14699-0, 10/19380-0, 09/07173-2)

TAVARES, RENATO SEIJI; SATO, ANDRE KUBAGAWA; MARTINS, THIAGO CASTRO; LIMA, RAUL GONZALEZ; GUERRA TSUZUKI, MARCOS SALES. GPU acceleration of absolute EIT image reconstruction using simulated annealing. Biomedical Signal Processing and Control, v. 52, p. 445-455, JUL 2019. (10/19380-0, 09/07173-2)

MARTINS, THIAGO C.; TSUZUKI, MARCOS S. G.. Investigating Anisotropic EIT with Simulated Annealing. IFAC PAPERSONLINE, v. 50, n. 1, p. 6-pg., 2017-01-01. (10/19380-0, 09/07173-2)

MARTINS, THIAGO DE CASTRO; GUERRA TSUZUKI, MARCOS DE SALES; BUENO DE CAMARGO, ERICK DARIO LEON; LIMA, RAUL GONZALEZ; DE MOURA, FERNANDO SILVA; PASSOS AMATO, MARCELO BRITO. Interval Simulated Annealing applied to Electrical Impedance Tomography image reconstruction with fast objective function evaluation. COMPUTERS & MATHEMATICS WITH APPLICATIONS, v. 72, n. 5, p. 1230-1243, SEP 2016. (08/07150-0, 10/19380-0, 09/07173-2)

MARTINS, THIAGO DE CASTRO; FERNANDES, AMANDA VIEIRA; GUERRA TSUZUKI, MARCOS DE SALES; IEEE. IMAGE RECONSTRUCTION BY ELECTRICAL IMPEDANCE TOMOGRAPHY USING MULTI-OBJECTIVE SIMULATED ANNEALING. 2014 IEEE 11th International Symposium on Biomedical Imaging (ISBI), v. N/A, p. 4-pg., 2014-01-01. (10/19380-0, 09/07173-2)