Teste baseado em Sistemas de Transição com Entrada e Saída

• Processo: 12/09650-5
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de agosto de 2012
• Data de Término da vigência: 31 de março de 2016
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Ciência da Computação - Metodologia e Técnicas da Computação
• Pesquisador responsável: Adenilso da Silva Simão
• Beneficiário: Sofia Larissa da Costa Paiva
• Instituição Sede: Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação (ICMC). Universidade de São Paulo (USP). São Carlos , SP, Brasil
• Assunto(s): Engenharia de software
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Ioco | Sistemas de transição com entrada e saída | Engenharia de Software

Resumo

O Teste Baseado em Modelos (TBM) envolve a geração de casos de teste automatizada a partir de modelos produzidos durante o ciclo de desenvolvimento de software. Podem ser encontrados muitos métodos para geração de casos de teste a partir de Máquinas de Estados Finitos(MEFs). Porém, algumas classes de sistemas não podem ser representadas utilizando MEFs, e um dos modelos adotados para tal representação são os Sistemas de Transição de Entrada/Saída (do inglês, Input/Output Transition Systems, IOTS). Mesmo sendo amplamente investigada, a teoria para geração de casos de teste em IOTS não oferece apoio a mesma altura da teoria existente para a geração a partir de MEFs. Este projeto de doutorado tem por objetivo investigar como os recentes resultados obtidos no teste baseado em MEFs podem ser aplicados no contexto do testebaseado em IOTS.

Publicações científicas

(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)

PAIVA, SOFIA COSTA; SIMAO, ADENILSO. Generation of complete test suites from mealy input/output transition systems. FORMAL ASPECTS OF COMPUTING, v. 28, n. 1, p. 65-78, MAR 2016. (12/02232-3, 12/09650-5)

Publicações acadêmicas

(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)

PAIVA, Sofia Larissa da Costa. Aplicação de modelos de defeitos na geração de conjuntos de teste completos a partir de Sistemas de Transição com Entrada/Saída. 2016. Tese de Doutorado - Universidade de São Paulo (USP). Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação (ICMC/SB) São Carlos.