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PROCESSO PARA INDUZIR, AUMENTAR E CONTROLAR A CRIAÇÃO DE CENTROS DE DEFEITOS ASSOCIADOS À FOTOSENSITIVIDADE E GERAÇÃO DO SEGUNDO HARMÔNICO EM PREFORMAS DE SiO2:GeO2 FABRICADAS PELA TÉCNICA DE DEPOSIÇÃO AXIAL EM FASE VAPOR (VAD)

Tipo de documento:Patente
Inventor(es): Carlos Kenichi Suzuki; Raul Fernando Cuevas Rojas
Depositante: Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP) ; Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
Data do depósito: 16 de novembro de 2004
Registro INPI:
PI0404965-9
IPC: C03B 37/018 C23C 16/40 C23C 16/453 C23C 16/52
Resumo

"PROCESSO PARA INDUZIR, AUMENTAR E CONTROLAR A CRIAÇÃO DE CENTROS DE DEFEITOS ASSOCIADOS À FOTOSENSITIVIDADE E GERAÇÃO DO SEGUNDO HARMÔNICO EM PREFORM-AS DE SiO~ 2~:GeO~ 2~ FABRICADAS PELA TÉCNICA DE DEPOSIÇÃO AXIAL EM FASE VAPOR (VAD)". A presente invenção esta relacionada com o desenvolvimento de novo processo de preparação de vidros de SiO~ 2~:GeO~ 2~ (sílica - germânia) pela técnica de deposição axial em fase vapor (VAD), para intensificar a resposta não-linear do material. O processo é baseado no controle dos centros de defeitos que são associados às propriedades eletro - ópticas, tais como a fotosensitividade e a geraçao do segundo harmônico, através dos parâmetros do processo de preparação de preformas vítreas de SiO~ 2~:GeO~ 2~. Desenvolveram-se duas fases do processo para induzir, controlar e aumentar a formação destes defeitos e com isto obter um material óptico baseado no vidro de SiO~ 2~ :GeO~ 2~ no qual seu comportamento não linear pode ser controlado a partir do conteúdo dos centros de defeitos introduzidos no vidro através dos parâmetros usados durante a preparação do material, reduzindo-se ao mínimo o número de passos no processo de síntese do vidro de SiO~ 2~ :GeO~ 2~ com alto desempenho na geração de centros de defeitos responsáveis pelas propriedades ópticas não-lineares de segunda ordem.


Processo FAPESP: 00/15035-4 - Estudo da formação de defeitos relacionados com a não-linearidade de segunda ordem em preformas vítreas de SiO2:GeO2 fabricadas pela técnica de deposição em fase de vapor - VAD
Beneficiário:Raul Fernando Cuevas Rojas
Pesquisador responsável:Carlos Kenichi Suzuki
Instituição: Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Faculdade de Engenharia Mecânica (FEM)
Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado

Processo FAPESP: 04/03151-0 - Método para induzir, controlar e aumentar a criação de centros de defeitos associados a fotosensitividade e geração do segundo harmônico em preformas de SiO2:GeO2 fabricadas pela técnica de deposição axial em fase vapor (VAD)
Beneficiário:Raul Fernando Cuevas Rojas
Pesquisador responsável:Raul Fernando Cuevas Rojas
Instituição: Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Faculdade de Engenharia Mecânica (FEM)
Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Programa de Apoio à Propriedade Intelectual (PAPI/Nuplitec)