| Processo: | 11/14097-0 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado |
| Data de Início da vigência: | 01 de julho de 2012 |
| Data de Término da vigência: | 30 de junho de 2015 |
| Área de conhecimento: | Engenharias - Engenharia Nuclear - Aplicações de Radioisótopos |
| Pesquisador responsável: | Rajendra Narain Saxena |
| Beneficiário: | Fabio Henrique de Moraes Cavalcante |
| Instituição Sede: | Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN). São Paulo , SP, Brasil |
| Assunto(s): | Dielétricos Filmes finos |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Correlação Angular Gama-Gama Perturbada | Dielétricos | Filmes finos | Nanoestrutas | Oxidos metálico | Interações hiperfinas eletromagnéticas |
Resumo O objetivo principal deste projeto é a preparação e caracterização de óxidos metálicos com constante dielétrica alta na forma de nanoparticulas ou filmes finos. Os estudos serão realizados em óxido de háfnio puro e dopados com Ti, Ce, Gd e Dy com intuito de estudar as possíveis alterações nas propriedades físicas e o surgimento de novos fenômenos. Será usada uma técnica nuclear de interações hiperfinas, a espectroscopia de Correlação Angular Gama-Gama Perturbada (PAC) para a caracterização em escala atomica e técnicas convencionais como: Rutherford backscattering (RBS), difração de raios-X, e microscopia eletrônica. A técnica PAC será utilizada para medir os parâmetros hiperfinos, tais como gradiente de campo elétrico, parâmetro de assimetria do gradiente do campo elétrico e campo hiperfino magnético numa larga faixa de temperaturas de 10K a 1300K. As medidas serão realizadas com intuito de correlacionar os resultados com o comportamento das propriedades características de cada composto, na tentativa de entender os mecanismos microscópicos que dão origem a estes fenômenos. Pretende se realizar em alguns casos specificos os cálculos teóricos usando os métodos de primeiros princípios. | |
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