| Processo: | 12/21147-7 |
| Modalidade de apoio: | Auxílio à Pesquisa - Regular |
| Data de Início da vigência: | 01 de abril de 2013 |
| Data de Término da vigência: | 30 de junho de 2015 |
| Área do conhecimento: | Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos |
| Pesquisador responsável: | Jose Humberto Dias da Silva |
| Beneficiário: | Jose Humberto Dias da Silva |
| Instituição Sede: | Faculdade de Ciências (FC). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Bauru. Bauru , SP, Brasil |
| Município da Instituição Sede: | Bauru |
| Pesquisadores associados: | Paulo Noronha Lisboa Filho |
| Assunto(s): | Nanofios Deposição de filmes finos Semicondutores Epitaxia por feixe molecular Nitreto de gálio Dopagem eletrônica Pulverização catódica |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | dopagem | filmes | magnetron sputtering | Nanofios | nitreto de gálio (GaN) | nucleação | Deposição de Filmes Semicondutores |
Resumo
O crescimento e as propriedades dimensionais de nanoestruturas semicondutoras apresentam interesse central para o desenvolvimento atual de ciência fundamental e novas tecnologias. Nesse contexto, crescimentos de filmes e nanofios de GaN serão investigados usando a técnica de epitaxia por magnetron sputtering (MSE). Na implementação dessa técnica serão utilizados alvos de Ga e plasmas de argônio e nitrogênio espacialmente separados. Essa nova configuração proposta minimizará efeitos de contaminação do alvo e danos produzidos por colisão de partículas energéticas com a superfície de crescimento. A ampla faixa disponível de parâmetros controláveis possibilitará a deposição de filmes e nanofios no mesmo equipamento: para obtenção dos nanofios serão utilizados fluxos altos de nitrogênio ativado por plasma, baixas pressões e incidência direcional de Ga, e temperaturas altas de substrato em comparação com as utilizadas nas deposições de filmes bidimensionais. As condições para crescimento espontâneo dos nanofios na direção [0001] da estrutura wurtzita serão priorizadas nos experimentos. A morfologia superficial, estrutura, propriedades eletrônicas e ópticas serão caracterizadas com a finalidade de otimizar o crescimento e as características físicas dos materiais produzidos. Dopagens das nanoestruturas serão realizadas visando aplicações em LEDs, eletrônica de ultra-alta-potência, nanofotônica, e spintrônica. (AU)
| Matéria(s) publicada(s) na Agência FAPESP sobre o auxílio: |
| Mais itensMenos itens |
| TITULO |
| Matéria(s) publicada(s) em Outras Mídias ( ): |
| Mais itensMenos itens |
| VEICULO: TITULO (DATA) |
| VEICULO: TITULO (DATA) |