| Processo: | 17/18181-2 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Iniciação Científica |
| Data de Início da vigência: | 01 de dezembro de 2017 |
| Data de Término da vigência: | 30 de junho de 2018 |
| Área de conhecimento: | Ciências Exatas e da Terra - Física - Física Nuclear |
| Pesquisador responsável: | Marcilei Aparecida Guazzelli |
| Beneficiário: | Alexis Cristiano Vilas Bôas |
| Instituição Sede: | Centro Universitário FEI (UNIFEI). Campus de São Bernardo do Campo. São Bernardo do Campo , SP, Brasil |
| Assunto(s): | Efeitos de radiação Radiação ionizante Raios X Retificadores Dispositivos eletrônicos |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | diodo retificador | diodo zener | Radiação ionizante | raios-X | Total Ioniziing Dose | Física das Radiações |
Resumo Dispositivos eletrônicos expostos à radiação ionizante podem sofrer danos que podem alterar as propriedades que caracterizam o dispositivo, modificando os parâmetros elétricos e, no caso de memórias ou processadores, podendo modificar as informações contidas nesses dispositivos. Diante deste problema, o desenvolvimento de dispositivos eletrônicos resistentes à radiação e a sua qualificação quanto a serem mais tolerantes aos efeitos da radiação ionizante requerem pessoal qualificado, com o conhecimento específico dos mecanismos físicos atuantes nos dispositivos quando expostos à radiação. Para estudar o comportamento de dispositivos nessas condições, é necessário saber caracterizá-lo adequadamente, de acordo com os danos causados por uma determinada dose de radiação, e pelo tipo de radiação ionizante. Vale ressaltar que este tema é de extrema importância para que esta área estratégica de pesquisa seja autossuficiente em nosso país e também que o Centro Universitário FEI participa do mais importante projeto nacional, financiado pela FINEP - CITAR: Circuitos Integrados Tolerantes a Radiação - o qual visa consolidar este conhecimento no Brasil. Este projeto de pesquisa visa estudar efeitos da radiação ionizante proveniente de raios-X em dispositivos eletrônicos convencionais, especificamente os diodos Retificadores e Zener. O s diodos serão expostos a diferentes taxas de dose de radiação de raios X, modificando o tempo de exposição e a intensidade do feixe de raios X, com a finalidade de estudar como a dose de radiação acumulada no material influencia nas características dos dispositivos e no sinal do circuito. Desta forma, será possível correlacionar os mecanismos físicos responsáveis pelos efeitos da radiação nos dispositivos com as alterações nos parâmetros característicos, gerando capacitação de engenheiros elétricos nesta área estratégica para o Brasil. | |
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