Scaling like behaviour of resistivity observed in LaNiO3 thin films grown on SrTiO3 substrate by pulsed laser deposition

Autor(es)

Sergeenkov, S. ^{[1, 2]} ; Cichetto, Jr., L. ^{[1, 3, 4]} ; Zampieri, M. ^[3] ; Longo, E. ^{[3, 4]} ; Araujo-Moreira, F. M. ^[1]

Afiliação do(s) autor(es)

^[1] Univ Fed Sao Carlos, Dept Fis, BR-13560 Sao Carlos, SP - Brazil

^[2] Univ Fed Paraiba, CCEN, Dept Fis, BR-58051970 Joao Pessoa, Paraiba - Brazil

^[3] Univ Fed Sao Carlos, LIEC Dept Chem, BR-13560 Sao Carlos, SP - Brazil

^[4] Univ Estadual Paulista, UNESP, Inst Chem, BR-14801907 Araraquara, SP - Brazil

• Tipo de documento: Artigo Científico
• Fonte: JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER; v. 27, n. 48 DEC 9 2015.
• Citações Web of Science: 5

Resumo

We discuss the origin of the temperature dependence of resistivity. observed in highly oriented LaNiO3 thin films grown on SrTiO3 substrate by a pulsed laser deposition technique. All the experimental data are found to collapse into a single universal curve rho(T, d) proportional to {[}T/T-sf(d)](3/2) for the entire temperature interval (20 < K < T< 300 K) with T-sf(d) being the onset temperature for triggering a resonant scattering of conduction electrons by spin fluctuations in LaNiO3/SrTiO3 heterostructure. (AU)

• Processo FAPESP: 13/07296-2 - CDMF - Centro de Desenvolvimento de Materiais Funcionais
• Beneficiário: Elson Longo da Silva
• Linha de fomento: Auxílio à Pesquisa - Centros de Pesquisa, Inovação e Difusão - CEPIDs
• Processo FAPESP: 14/01371-5 - Obtenção de memórias com LaNiO3 e LaNiO3/BaTiO3 utilizando PLD
• Beneficiário: Leonélio Cichetto Junior
• Linha de fomento: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado