Direct evaluation of composition profile‚ strain relaxation‚ and elastic energy of Ge: Si (001) self-assembled islands by anomalous x-ray scattering

Magalhaes-Paniago‚ R.; Medeiros-Ribeiro‚ G.; Malachias‚ A.; Kycia‚ S.; Kamins‚ TI; Williams‚ R.S.

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(Referência obtida automaticamente do Google Scholar, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores.)

Direct evaluation of composition profile‚ strain relaxation‚ and elastic energy of Ge: Si (001) self-assembled islands by anomalous x-ray scattering

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Autor(es):	Magalhaes-Paniago‚ R. ; Medeiros-Ribeiro‚ G. ; Malachias‚ A. ; Kycia‚ S. ; Kamins‚ TI ; Williams‚ R.S. Número total de Autores: 6
Tipo de documento:	Artigo Científico
Fonte:	Physical Review B; v. 66, n. 24, p. 245312, 2002.

Processo FAPESP:	98/14757-4 - Materiais nanoestruturados investigados por microscopias de tunelamento e força atômica através de medidas de transporte
Beneficiário:	Gilberto Medeiros Ribeiro
Modalidade de apoio:	Auxílio à Pesquisa - Jovens Pesquisadores

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