| Processo: | 99/02589-2 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Mestrado |
| Data de Início da vigência: | 01 de julho de 1999 |
| Data de Término da vigência: | 31 de março de 2001 |
| Área de conhecimento: | Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos |
| Pesquisador responsável: | Carlos Kenichi Suzuki |
| Beneficiário: | Edmilton Gusken |
| Instituição Sede: | Faculdade de Engenharia Mecânica (FEM). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil |
| Assunto(s): | Análise química Sílica vítrea Dopagem eletrônica Deposição axial na fase vapor Fibra óptica Espectrometria de fluorescência |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Analise Quimica | Dopagem Com Germanio | Fluorescencia De Raios X | Silica Vitrea | Tecnologia Vad |
Resumo Para se produzir fibras ópticas de baixa atenuação é necessário que se tenha sílica vítrea de ultra alta pureza, e em fibras mono-modo a dopagem no núcleo da fibra tem a função de diminuir a dispersão do feixe dentro da mesma. Particularmente para o desenvolvimento da tecnologia VAD (Vapor-phase Axial Deposition), no LIQC, Laboratório do Ciclo Integrado de Quartzo da Unicamp, a primeira iniciativa em todo hemisfério Sul, toma-se necessário conhecer o efeito da dopagem do Ge02 durante os diversos estágios do processamento da preforma de fibras ópticas, (deposição, "dehydration" e consolidação). Serão analisados os materiais dopados com Ge02, observando-se o comportamento da concentração, que será efetuada em todas as fases do processo VAD. Usando a técnica de Espectrometria de Fluorescência de Raios-X, sendo os resultados correlacionados com os parâmetros do processo de preparação. (AU) | |
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