| Grant number: | 09/11429-2 |
| Support Opportunities: | Regular Research Grants |
| Start date: | December 01, 2009 |
| End date: | November 30, 2011 |
| Field of knowledge: | Physical Sciences and Mathematics - Physics - Condensed Matter Physics |
| Principal Investigator: | Marcos Roberto da Rocha Gesualdi |
| Grantee: | Marcos Roberto da Rocha Gesualdi |
| Host Institution: | Centro de Engenharia, Modelagem e Ciências Sociais Aplicadas (CECS). Universidade Federal do ABC (UFABC). Santo André , SP, Brazil |
| City of the host institution: | Santo André |
Abstract
Os materiais fotorrefrativos (PRM's) são importantes e promissores materiais para aplicações científicas e tecnológicas, devido aos efeitos ópticos não lineares característicos, principalmente, o efeito fotorrefrativo. Atualmente, os cristais fotorrefrativos (PRC's) são usados em diversas aplicações em guias de onda, moduladores ópticos, conversor óptico paramétrico, conjugação de fase, filtros holográficos, interferometria holográfica, armazenamento e processamento óptico e são potenciais materiais para aplicações em óptica não linear, sensores, geração de sólitons e manipulação de feixes ópticos difrativos e não difrativos. Por outro lado, a interferometria holográfica é um poderoso método óptico para observação de fenômenos perturbativos e de forma na análise da fase de frentes de onda, ensaios não-destrutivos e aferição de sistemas ópticos. Este projeto de pesquisa visa estudar a geração e controle de feixes ópticos em PRC's com a análise desses feixes usando técnicas de interferometria holográfica e ópticas, em particular, os processos de geração, controle e análise de feixes de Bessel em PRC's. Nós pretendemos realizar experimentos envolvendo o processo de auto-refração em PRC's para geração e controle de ondas ópticas e utilizaremos uma configuração experimental de interferometria holográfica (fotorrefrativa e digital) para estudar as variações de intensidade e fase dos feixes gerados, bem como, a análise no campo distante. Os experimentos propostos permitem diversas variações dos lasers de excitação possibilitando estudar vários aspectos do processo de auto-refração. Faremos medidas em cristais silenitas (Bi12SiO20) e SBN, potenciais materiais para geração e manipulação de feixes ópticos difrativos e não difrativos. (AU)
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