The 5th Brazil School for Single Particle Cryo Electron Microscopy

• Grant number: 12/08765-3
• Support Opportunities: Organization Grants - Organization of Scientific Meeting
• Start date: August 09, 2012
• End date: August 21, 2012
• Field of knowledge: Biological Sciences - Morphology - Cytology and Cell Biology
• Principal Investigator: Carlos Alberto Gonçalves Silva Jared
• Grantee: Carlos Alberto Gonçalves Silva Jared
• Host Institution: Instituto Butantan. São Paulo , SP, Brazil
• City of the host institution: São Paulo

Abstract

Esta escola é um curso de 11 dias com aulas teóricas e práticas que abordam todos os aspectos relativos ao processamento computacional de dados obtidos pela técnica "Single Particle" de crio-microscopia eletrônica ("Single Particle cryo-EM"). Durante o curso, cada aluno processa dados reais de crio-microscopia eletrônica, utilizando seu próprio computador ("notebook"), à medida que os conceitos e metodologias da técnica vão sendo apresentados. As aulas expositivas são seguidas de aulas práticas, fazendo com que a teoria apresentada seja imediatamente aplicada, pelos alunos, no processamento dos seus dados. Durante todas as aulas práticas, instrutores estão disponíveis para auxiliar os alunos. Este acompanhamento individual é fundamental para um sólido e rápido aprendizado da técnica. Os programas e conjuntos de dados necessários para as práticas são fornecidos e instalados nos computadores pessoais dos participantes, incluindo também uma licença de uso de 12 meses para o programa "IMAGIC".Além das aulas expositivas e práticas, o curso conta com sessões para apresentações orais pelos participantes, onde estes têm a oportunidade de discutir seus trabalhos com os demais alunos e renomados pesquisadores da área. O fato de o curso ser oferecido para um máximo de 30 alunos, todos hospedados no local do curso, cria um excelente ambiente de aprendizado e contato profissional.Os temas abordados durante o curso são: preparação de amostras; seleção automática de partículas; filtros e normalização de dados; pré-processamento de dados; bases matemáticas, tais como funções de correlação e transformadas de Fourier; alinhamentos multireferência; análise estatística multivariada; classificação automática; reconstrução 3D; reconstituição angular; processamento paralelo de dados; refinamento das estruturas; utilização de estruturas resolvidas por difração de raios-X e NMR; critérios de resolução e tópicos avançados como coleta e processamento de dados visando alta resolução. (AU)