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Transistores transparentes/flexíveis: do estudo de propriedades de transporte ao desenvolvimento de circuitos

Processo:19/08019-9
Modalidade de apoio:Auxílio à Pesquisa - Regular
Data de Início da vigência: 01 de agosto de 2019
Data de Término da vigência: 31 de julho de 2021
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Lucas Fugikawa Santos
Beneficiário:Lucas Fugikawa Santos
Instituição Sede: Instituto de Geociências e Ciências Exatas (IGCE). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Rio Claro. Rio Claro , SP, Brasil
Município da Instituição Sede:Rio Claro
Pesquisadores associados:Giovani Fornereto Gozzi
Assunto(s):Propriedades elétricas  Processamento  Filmes finos  Transporte de carga  Óxidos metálicos 
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Filmes finos | óxidos metálicos | processamento | propriedades elétricas | Transistores de Filme Fino | transporte de carga | Transporte eletrônico e dispositivos

Resumo

Transistores de filme fino (TFTs) à base de óxidos metálicos como o óxido de zinco (ZnO) podem ser processados por solução, podendo atingir desempenho superior aos dispositivos à base de silício amorfo comercialmente disponíveis. Além de melhor desempenho, estes materiais possuem a vantagem de permitirem o recobrimento de grandes áreas, apresentarem baixo custo de produção, serem transparentes na região do visível e, em algumas situações, serem compatíveis com substratos flexíveis. No entanto, eles ainda apresentam uma variabilidade de suas propriedades elétricas com a exposição ao oxigênio, à umidade e à radiação ultravioleta (UV), o que faz com que seja necessário um estudo mais aprofundado de suas propriedades. Além disso, a morfologia dos filmes e a arquitetura do dispositivo podem ser determinantes em sua performance. O presente trabalho tem por objetivo a otimização dos parâmetros de manufatura de TFTs à base de óxidos metálicos como o ZnO e seus compostos ternários e quaternários de outros metais (In, Al, Sn, Cu, Ga, etc.) utilizando métodos de design de experimentos (DOE) e análise de variância (ANOVA) dos resultados de performance obtidos. Para tanto, usaremos de nossa experiência anterior no desenvolvimento de técnicas de manufatura de TFTs com alto desempenho e com alto grau de reprodutibilidade dos resultados obtidos. Após a otimização dos parâmetros de construção, tentaremos estender a experiência para a manufatura de dispositivos em substratos flexíveis e/ou transparentes, tão bem como construir circuitos lógicos que possam ser utilizados como base para circuitos digitais. A experiência adquirida durante os processos a serem estudados também permitirá a ampliação da gama de aplicações dos TFTs como, por exemplo, em unidades sensoriais de substâncias químicas de interesse tecnológico. (AU)

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Publicações científicas (11)
(As publicações científicas contidas nesta página são originárias da Web of Science ou da SciELO, cujos autores mencionaram números dos processos FAPESP concedidos a Pesquisadores Responsáveis e Beneficiários, sejam ou não autores das publicações. Sua coleta é automática e realizada diretamente naquelas bases bibliométricas)
LIMA, GUILHERME R.; BRAGA, JOAO P.; GOZZI, GIOVANI; FUGIKAWA-SANTOS, LUCAS. On the reproducibility of spray-coated ZnO thin-film transistors. MRS ADVANCES, v. 5, n. 35-36, SI, p. 1859-1866, . (19/08019-9)
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DE LIMA, GUILHERME R.; GOZZI, GIOVANI; FUGIKAWA-SANTOS, LUCAS. . Instrumentation Science & Technology, v. 50, n. 3, . (19/08019-9)
ANDRE, RAFAELA S.; SCHNEIDER, RODRIGO; DELIMA, GUILHERME R.; FUGIKAWA-SANTOS, LUCAS; CORREA, DANIEL S.. . ACS SENSORS, v. 9, n. 2, p. 7-pg., . (18/22214-6, 22/03661-7, 19/08019-9)
LIMA, GUILHERME R.; BRAGA, JOAO P.; GOZZI, GIOVANI; FUGIKAWA-SANTOS, LUCAS. . MRS ADVANCES, v. 5, n. 35-36, p. 8-pg., . (19/08019-9)
GOMES, TIAGO C.; KUMAR, DINESH; ALVES, NERI; KETTLE, JEFF; FUGIKAWA-SANTOS, LUCAS. The Effect of Anodization Parameters on the Aluminum Oxide Dielectric Layer of Thin-Film Transistors. JOVE-JOURNAL OF VISUALIZED EXPERIMENTS, n. 159, . (19/08019-9, 14/13904-8, 16/03484-7, 19/05620-3, 19/01671-2)
VIEIRA, DOUGLAS HENRIQUE; OZORIO, MAIZA DA SILVA; NOGUEIRA, GABRIEL LEONARDO; FUGIKAWA-SANTOS, LUCAS; ALVES, NERI. . MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, v. 121, . (18/04169-3, 19/01671-2, 19/08019-9)
VIEIRA, DOUGLAS HENRIQUE; NOGUEIRA, GABRIEL LEONARDO; NASCIMENTO, MAYK RODRIGUES; FUGIKAWA-SANTOS, LUCAS; ALVES, NERI. . CURRENT APPLIED PHYSICS, v. 53, p. 8-pg., . (20/12282-4, 19/08019-9)
VIEIRA, DOUGLAS HENRIQUE; NOGUEIRA, GABRIEL LEONARDO; MORAIS, ROGERIO MIRANDA; FUGIKAWA-SANTOS, LUCAS; SEIDEL, KELI FABIANA; ALVES, NERI. . SENSORS AND ACTUATORS A-PHYSICAL, v. 347, p. 9-pg., . (19/08019-9, 20/12282-4, 18/02037-2, 18/04169-3)
CANTUARIA, JOSE B.; MENDES, JOAO V.; FUGIKAWA-SANTOS, LUCAS. . RS ADVANCE, v. 9, n. 9, p. 6-pg., . (22/03661-7, 19/08019-9)
GOMES, TIAGO C.; KUMAR, DINESH; ALVES, NERI; KETTLE, JEFF; FUGIKAWA-SANTOS, LUCAS. . JOVE-JOURNAL OF VISUALIZED EXPERIMENTS, v. N/A, n. 159, p. 8-pg., . (19/01671-2, 16/03484-7, 19/05620-3, 14/13904-8, 19/08019-9)